A produção de semicondutores está a tornar-se cada vez mais complexa à medida que a miniaturização avança e são introduzidos novos materiais e tecnologias de montagem e embalagem.
Melhoria da produção de semicondutores
através da medição dinâmica de força, pressão e aceleração
Que desafios enfrenta a produção de semicondutores?
A miniaturização aumenta a sensibilidade
As geometrias mais pequenas aumentam a suscetibilidade ao esforço mecânico e às microvibrações que permanecem invisíveis para as ferramentas de inspeção padrão.
A embalagem 3D aumenta a complexidade
As técnicas avançadas de embalagem e empilhamento de chips introduzem cargas mecânicas multieixos que os sensores estáticos não conseguem caracterizar.
Os eventos de tensão ocorrem na escala de milissegundos
Os eventos mecânicos críticos para a resistência ocorrem em milésimos de segundo, o que está muito abaixo da taxa de captura da inspeção convencional.
A inspeção no final da linha deteta demasiado tarde
A inspeção ótica e elétrica deteta frequentemente defeitos depois de o valor já ter sido acrescentado — o desperdício é inevitável.
Como as soluções de medição da Kistler resolvem os desafios na produção de semicondutores
As medições dinâmicas de força, pressão e aceleração são fundamentais, uma vez que muitos eventos de tensão mecânica relevantes para o rendimento ocorrem em milésimos de segundo e não podem ser detetados por métodos de inspeção estáticos ou de fim de linha. A tecnologia de medição piezoelétrica garante a monitorização e o controlo de alta resolução de — por mais pequenos que sejam.
Ao tornar a dinâmica física visível em tempo real, a Kistler permite que os fabricantes de semicondutores:
Maior rendimento, menos rejeitos
Os desvios do processo em linha são detetados antes de se propagarem — protegendo a qualidade do produto em cada etapa.
Controlo de força descendente em circuito fechado
O feedback de força em tempo real permite a correção ativa do processo com uma resolução de microssegundos, para tolerâncias mais rigorosas.
Qualificação mais rápida das ferramentas
A total transparência do processo reduz o tempo de rampa para novas ferramentas, nós e processos avançados de embalagem.
Detecção de microvibrações
Os acelerómetros de alta frequência captam as vibrações induzidas pela máquina que prejudicam a resistência da ligação e a litografia.
Rastreabilidade total do produto
Cada evento do processo é marcado com data e hora e associado a unidades individuais, garantindo a rastreabilidade completa do lote e a preparação para auditorias.
Funcionamento estável a longo prazo
A tecnologia piezoelétrica mantém a estabilidade da calibração em ciclos térmicos, vácuo e ambientes de sala limpa.
Novo artigo técnico: melhorar o controlo do processo na fabricação de semicondutores
Descarregue o white paper para descobrir como a monitorização piezoelétrica da força melhora a estabilidade do processo, o rendimento e a qualidade.
Casos de utilização selecionados para a otimização do rendimento e da qualidade na produção de semicondutores
Saiba como a Kistler apoia os fabricantes de semicondutores a superar os desafios de produção atuais.
A Kistler apoia toda a cadeia de fabrico de semicondutores
Desde a fabricação de wafers até ao teste final, a Kistler fornece uma cadeia de medição para cada fase crítica.
Featured products
Handheld charge amplifier and transmitter monitor
Data recording, insulation testing and quality assurance – the easy way
Acelerómetro IEPE triaxial em miniatura KiVibe
A solução ideal para medições de vibração em estruturas leves e em espaços reduzidos
Precisa de uma consulta?
Os nossos especialistas estão apenas a um clique de distância.
![[object Object]](https://kistler.cdn.celum.cloud/SAPCommerce_Document_Preview/961-140e.webp "Optimized semiconductor production")
![[object Object]](https://kistler.cdn.celum.cloud/SAPCommerce_Document_Preview/961-500e.webp "Using piezoelectric sensors to measure dynamic force in semiconductor applications")