Industrial solutions to monitor production quality within semiconductor manufacturing processes.

动态力测量技术:克服半导体生产中的新挑战

随着半导体生产技术的进步,生产设备的复杂程度呈指数级增长。如今,半导体生产必须依赖高效的过程监控系统;然而,常规的测量方法已无法确保产品达到质量标准。因此,力测量逐渐成为半导体生产前段及后段制程中的关键因素。

奇石乐压电式测量技术具有高分辨率的特点,能够精确监控和控制半导体生产过程中产生的所有力,即使微小力也无所遁形。力,作为一项可能导致设备故障的物理变量,难以通过常规的测量方法获取;但奇石乐压电式力测量技术能够“化无形为有形”,实现力的精确监控和控制。

动态力测量技术使生产过程可视化,为半导体行业带来核心优势:

  • 及早识别机械应力偏差
  • 全循环控制,确保下压力精度
  • 确保产品可追溯性,实现过程优化
  • 提高机器性能
  • 降低质量管理成本

奇石乐力测量技术可实现精确过程监控,为半导体生产行业带来实际附加价值。化无形为有形,是克服未来挑战的关键!

Measurement technology from Kistler enables the optimization of semiconductors' production quality.
使用集成测量技术监控半导体生产

奇石乐测量技术,监控半导体生产,提升生产过程可靠性

Kistler offers the right measurement technology for every application in semiconductor technology
半导体生产应用

对于半导体技术领域的任何应用,奇石乐均可提供最恰当的测量技术

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半导体生产中的压电式力测量技术

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