Metrologia no controlo avançado e otimização de processos industriais

Agenda

KISTLER:

  • Apresentação do Grupo Kistler
  • Modelação vs Medição num processo indústrial (factores de Incerteza associados )
  • Conceito de Janelas de Controlo (Objectos de Avaliação)
  • Conceito Análise Tendência de um Processo, Cpk e Ck
  • Métodos aplicados na monitorização e controlo de peças plásticas. Exemplos
  • Métodos aplicados na monitorização e controlo na montagem de componentes. Exemplos
  • Verificações cadeia de medição in situ

IEP:

  • Apresentação do Grupo IEP
  • Normalização, Certificação e Acreditação
  • Sistemas de gestão da medição e a norma EN ISO 10012
  • Metrologia e a Indústria 4.0
  • Metrologia fundamental, legal e industrial
  • O Sistema Internacional após 2019
  • Erros e Incertezas
  • Certificados de calibração e confirmação metrológica

 

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Oradores:
  • Luís Paulo Soares, Area Sales Manager - Portugal
  • Paulo Cabral, Coordenador da Especialização em Metrologia Ordem dos Engenheiros, Director de Relações Institucionais IEP, Vice-presidente do Conselho Directivo SPMet (Sociedade Portuguesa de Metrologia), Auditor IPAC
Metrologia no controlo avançado e otimização de processos industriais
13/10/2021
10:00 GMT (UTC+0)
90 min
PT
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Max 25 MB