総合的な測定技術で半導体製造を最適化

Integrated process control in the semiconductor production as part of smart manufacturing increase cost-effectiveness.

新しい技術とアプリケーションには、より高性能の半導体が必要です。このような半導体はより複雑な構成でありながら、さらに小型化されており、カスタマイズされたソリューションに特化して設計されています。つまり、メーカーは重要なプロセス変数である「力」を、製造プロセス全体にわたって制御し、監視する必要があります。

力の測定技術が機械に組み込まれていない限り、これらの課題を解決することは実質的に不可能です。キスラーの測定技術なら、正確な測定データに基づく、リアルタイムでの継続的な品質監視が可能になり、メーカーは製造プロセスの持続可能な改善を実施できるようになります。

経験で得られるもの

圧電式測定技術における60年以上の経験を持つキスラーは、産業のグローバルパートナーとして、製造業や機械メーカーが必要とする支援、半導体製造の最適化の鍵となる総合的な品質監視を提供しています。

利点

プロセスの信頼性向上

生産性の向上

プロセス監視と記録管理

製品品質の向上

品質コストの削減

トレーサビリティと透明性

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