Agenda
KISTLER:
- Apresentação do Grupo Kistler
- Modelação vs Medição num processo indústrial (factores de Incerteza associados )
- Conceito de Janelas de Controlo (Objectos de Avaliação)
- Conceito Análise Tendência de um Processo, Cpk e Ck
- Métodos aplicados na monitorização e controlo de peças plásticas. Exemplos
- Métodos aplicados na monitorização e controlo na montagem de componentes. Exemplos
- Verificações cadeia de medição in situ
IEP:
- Apresentação do Grupo IEP
- Normalização, Certificação e Acreditação
- Sistemas de gestão da medição e a norma EN ISO 10012
- Metrologia e a Indústria 4.0
- Metrologia fundamental, legal e industrial
- O Sistema Internacional após 2019
- Erros e Incertezas
- Certificados de calibração e confirmação metrológica
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Oradores:
- Luís Paulo Soares, Area Sales Manager - Portugal
- Paulo Cabral, Coordenador da Especialização em Metrologia Ordem dos Engenheiros, Director de Relações Institucionais IEP, Vice-presidente do Conselho Directivo SPMet (Sociedade Portuguesa de Metrologia), Auditor IPAC