消费电子（3C）市场竞争异常激烈。制造商们都致力于确保产品具备卓越的质量、安全性、耐用性、可靠性和性能。这一切对于控制生命周期成本和质量成本、建立客户信任以及维护品牌声誉都至关重要。在运输、存储或使用过程中，机械、热或气候条件都可能对产品造成影响。
产品召回和保修索赔的成本极高。因此，对消费电子产品进行全面的测试至关重要，以确保消费电子设备（3C产品）在日常使用中能够满足其承诺的产品规格。
消费电子行业的新技术、新材料以及持续的微型化趋势，给设计师带来了新的挑战，也对产品上市前的测试方案提出了新的要求。
用于对消费电子材料进行冲击试验和快速断裂试验的微型压电单组分称重传感器具有以下特点：
在产品接触地面时，必须了解作用力、加速度以及冲击方向的影响。测量高冲击力需要具备高刚度、高线性度及低串扰误差的传感器。我们提供经过校准的单组分和多组分力传感器及加速度计解决方案，以实现精确测量。与同样常用于冲击测试的应变片传感器相比，压电传感器具有显著优势。
在严苛的跌落测试/冲击测试过程中，基斯勒（Kistler）的压电式称重传感器凭借无与伦比的精度、长寿命、宽带宽/快速响应时间、长期运行稳定性、可靠性以及易于操作等优势，成为首选。
用于对消费类电子产品进行跌落/冲击测试的压电测力计通常由压电式称重传感器组成，其特点包括：
您可以选择：
由于时间持续度与频率成反比，因此测力计力板的设计需确保其固有频率至少比跌落测试的预期频率成分高出 3 到 5 倍。
Piezoelectric accelerometer to perform drop/impact testing on consumer electronics (3C products):
World's smallest miniature triaxial IEPE accelerometer (low mass: 6 mm ( 0.236”) cube, 0.9 gram sensor mass with low mass/flexible cable (1.2 mm OD, 3.2 gram/m) can be mounted to very small test units.
我们的加速度计体积小、重量轻，可灵活安装，包括安装在封装内部、待测产品表面，甚至安装在待测产品内部。MEMS加速度计不仅能测量撞击前的自由落体状态，还能对实际撞击事件进行全面表征。
用于消费类电子产品封装测试的微型三轴IEPE和三轴MEMS电容式加速度计，专为低频测量和动态测量能力进行了优化，具有以下特点：
用于3C产品跌落测试的加速度计：
全球最小的微型三轴IEPE加速度计（低质量：6毫米（0.236英寸）立方体，传感器质量仅0.9克，配有低质量/柔性电缆（外径1.2毫米，3.2克/米），可安装在非常小的测试装置上。
包装测试旨在评估包装及其内容物在运输和搬运过程中受到冲击时的反应。该测试有助于制造商解决设计缺陷、提高耐用性、最大限度地减少产品损坏、丢失及相关成本，同时避免过度包装（这会增加企业成本）和包装不足（这会危及货物安全，并因运输过程中产品损毁而导致更高成本）。该测试还能帮助确定产品包装的耐受性，并指出在冲击和振动测试中未必能检测到的结构和机械弱点。
HALT 和 HASS 测试需要具备极佳温度稳定性的加速度计。此类应用中会使用控制加速度计和响应加速度计。控制加速度计用于监测施加到被测对象上的输入振动，通常为单轴加速度计。响应加速度计则用于测量被测对象因输入振动而产生的振动，通常为三轴加速度计。
PiezoStar 单轴和三轴加速度计适用于 ESS、HASS 和 HALT 测试，具有以下特点：
环境应力筛选（ESS）是指对产品施加应力直至其失效。作为ESS测试方法的一部分，高度加速寿命试验（HALT）与高度加速应力筛选（HASS）的结合，通过早期发现此类失效机制来提高产品可靠性，从而有助于降低维修或更换成本。ESS是应对消费类电子设备在实际使用中可能发生失效的有效手段。
ESS测量链采用控制加速度计、响应加速度计、数据采集系统、信号调理装置、气候试验箱、振动台和控制器。测试过程通常持续3至5天，包含多个阶段，在此期间被测单元（UUT）将暴露于以下条件：
