Agenda

KISTLER:

• Apresentação do Grupo Kistler
• Modelação vs Medição num processo indústrial (factores de Incerteza associados )
• Conceito de Janelas de Controlo (Objectos de Avaliação)
• Conceito Análise Tendência de um Processo, Cpk e Ck
• Métodos aplicados na monitorização e controlo de peças plásticas. Exemplos
• Métodos aplicados na monitorização e controlo na montagem de componentes. Exemplos
• Verificações cadeia de medição in situ

IEP:

• Apresentação do Grupo IEP
• Normalização, Certificação e Acreditação
• Sistemas de gestão da medição e a norma EN ISO 10012
• Metrologia e a Indústria 4.0
• Metrologia fundamental, legal e industrial
• O Sistema Internacional após 2019
• Erros e Incertezas
• Certificados de calibração e confirmação metrológica

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Oradores:

• Luís Paulo Soares, Area Sales Manager - Portugal
• Paulo Cabral, Coordenador da Especialização em Metrologia Ordem dos Engenheiros, Director de Relações Institucionais IEP, Vice-presidente do Conselho Directivo SPMet (Sociedade Portuguesa de Metrologia), Auditor IPAC