Die Halbleiterfertigung wird zunehmend komplexer, da die Miniaturisierung voranschreitet und neue Materialien sowie Produktionsprozesse eingeführt werden.
Optimierung der Halbleiterfertigung

durch dynamische Kraft-, Druck- und Beschleunigungsmessung
Vor welchen Herausforderungen steht die Halbleiterfertigung?
Miniaturisierung erhöht die Empfindlichkeit
Kleinere Geometrien erhöhen die Anfälligkeit gegenüber mechanischen Belastungen und Mikrovibrationen, die für herkömmliche Prüfverfahren unsichtbar bleiben.
3D Herstellungsverfahren erhöhen die Komplexität
Advanced Packaging- und Die-Stacking-Prozesse erzeugen mehrachsige mechanische Belastungen, die von statischen Sensoren nicht erfasst und analysiert werden können.
Belastungsereignisse finden im Millisekundenbereich statt
Für den Yield entscheidende mechanische Ereignisse treten innerhalb weniger Millisekunden auf und entziehen sich der zeitlichen Auflösung herkömmlicher Inspektionsverfahren.
Die End-of-Line-Prüfung erkennt Fehler zu spät
Optische und elektrische Prüfverfahren entdecken Fehler oft erst, nachdem bereits Wert geschaffen wurde – Ausschuss ist unvermeidbar.
Wie Messlösungen von Kistler Herausforderungen in der Halbleiterfertigung lösen
Dynamische Kraft-, Druck- und Beschleunigungsmessungen sind entscheidend, da viele ertragsrelevante mechanische Belastungsereignisse innerhalb von Millisekunden auftreten und mit statischen oder End-of-Line-Prüfverfahren nicht erkannt werden können. Die piezoelektrische Messtechnik gewährleistet eine hochauflösende Überwachung und Steuerung – ganz gleich, wie klein die Ereignisse auch sein mögen.
Indem Kistler physikalische Dynamik in Echtzeit sichtbar macht, ermöglicht das Unternehmen Halbleiterherstellern:
Höhere Ausbeute, weniger Ausschuss
Prozessabweichungen werden bereits im laufenden Betrieb erkannt, bevor sie sich auf nachgelagerte Produktionsschritte auswirken – dadurch wird die Produktqualität in jedem Schritt gesichert.
Regelung des Anpressdrucks
Echtzeit-Kraftrückmeldung ermöglicht eine aktive Prozesskorrektur mit einer Auflösung im Millisekundenbereich für engere Toleranzen.
Schnellere Werkzeugqualifizierung
Vollständige Prozesstransparenz verkürzt die Inbetriebnahmezeit für neue Werkzeuge, Knoten und fortschrittliche Verpackungsprozesse.
Erkennung von Mikrovibrationen
Hochfrequenz-Beschleunigungssensoren erfassen durch Maschinen verursachte Vibrationen, die sich negativ auf die Bondfestigkeit und die Lithographie auswirken.
Vollständige Produktrückverfolgbarkeit
Jedes Prozessereignis wird zeitgestempelt und einzelnen Bauteilen zugeordnet, wodurch eine vollständige Rückverfolgbarkeit auf Chargenebene sowie eine hohe Auditbereitschaft gewährleistet werden.
Stabiler Langzeitbetrieb
Die piezoelektrische Technologie gewährleistet Kalibrierungsstabilität über Temperaturwechsel, Vakuum und Reinraumumgebungen hinweg.

Neues Whitepaper: Verbesserung der Prozessteuerung in der Halbleiterfertigung
Ausgewählte Anwendungsbeispiele zur Ausbeute- und Qualitätsoptimierung in der Halbleiterfertigung
Erfahren Sie, wie Kistler Halbleiterhersteller dabei unterstützt, die heutigen Produktionsherausforderungen zu meistern.
Kistler unterstützt die gesamte Halbleiterfertigungskette
Von der Waferherstellung bis zur Endprüfung bietet Kistler eine Messkette für jede kritische Phase.
Ausgewählte Produkte

Handheld-Ladungsverstärker und Transmitter-Monitor



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![Using piezoelectric sensors to measure dynamic force in semiconductor applications [object Object]](https://kistler.cdn.celum.cloud/SAPCommerce_Document_Preview/961-500e.webp)